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适用于 X 射线非破坏性检测的背照式光电二极管阵列
0A002001008 是一款背照式 16 像元光电二极管阵列,专为无损 X 射线检查而设计。与前代产品相比,它具有更高的灵敏度均匀性和更小的光电二极管像元变化。背照式光电二极管阵列也易于处理,并且易于连接到闪烁体,而不必担心导线损坏,因为入射光侧没有焊线和受光面。0A002001008 可替换其他系列,因为其封装尺寸和管脚分配相同。
特点
-光谱响应范围:340 至 1100 nm
-像元尺寸:1.175 (W) × 2.0 (H) mm/单像元
-像元间距:1.575mm( × 16 像素)
-安装基板尺寸:25.4 (W) × 20.0 (H) mm
-通过多个阵列实现狭长形状
-支持双能量成像(用于上下两层组合时。)
详细参数
| 像元尺寸(每个像元) | 1.175 × 2.0 mm |
| 像元数 | 16 |
| 封装 | 玻璃环氧树脂 |
| 封装类别 | 未密封 |
| 闪烁体类型 | 无 |
| 制冷 | 非冷却型 |
| 反向电压(最大值) | 10 V |
| 灵敏度波长范围 | 340 至 1100 nm |
| 最大灵敏度波长(典型值) | 920 nm |
| 感光灵敏度(典型值) | 0.61 A/W |
| 暗电流(最大值) | 30 pA |
| 上升时间(典型值) | 6.5 μs |
| 结电容(典型值) | 40 pF |
| 测量条件 | Ta = 25°C,每个像元,感光灵敏度:λ = λp,暗电流:VR=10 mV,上升时间:VR = 0 V,结电容:VR = 0 V |
| 备注 | 本光电二极管阵列本身不用作 X 射线探测器。应在用户侧添加适当的闪烁体或磷光片。 |

本产品的芯片未密封且会外露。芯片上的电极等部件不受外壳或窗口的保护,因此与普通产品相比,在操作过程中需要特别小心。

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