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2F005-InGaAs 线阵扫描相机

SWIR(短波长红外)成像是非破坏性检测的理想解决方案。它可以看到表面之下的东西,根据其 SWIR 光谱特征区分材料,并提供安全便捷的方式来确保产品质量。

示例用途包括检查包装中的液体容量、检查密封容器的内容物,以及检测农产品中的损坏和污染物。此外,半导体行业中的用途包括硅晶圆图案检查和太阳能电池缺陷检测。将 SWIR 成像集成到生产线需要2F005 InGaAs 线阵扫描相机之类的相机,其高 SWIR 灵敏度和快速的线速非常适合实时、内联非破坏性检测。

与传统型号相比,2F005 通过添加边缘触发器功能提高了可用性,即使传送带速度在拍摄时发生变化,也能在一定的曝光时间内拍摄。它还兼容触发器启用功能,该功能仅在物体经过相机前方时拍摄。

特点

1. 950 nm 至 1700 nm 的 SWIR 灵敏度

2. 1024 像素线性阵列

3. 最大行速率:40 kHz

4. 接口:采用千兆以太网

5. 配备高质量图像(背景扣除、实时阴影校正)


用途

1. 食品和农产品(损坏检查、质量筛查、材质鉴别等)

2. 半导体(硅晶圆图案检查、EL/PL 太阳能电池检测等)

3. 工业(含水量、泄漏检测、容器检查等)


详细参数

产品规格型号2F005
成像设备InGaAs 线阵传感器
有效像素数1024 (H) × 1 (V)
细胞大小12.5 μm (H) × 12.5 μm (V)
有效面积12.8 mm (H) × 0.0125 mm (V)
最大线路速率

内部模式:40 kHz(21 μs 曝光时间

边缘触发器:20 kHz(21 μs 曝光时间)

同步读出:40 kHz

数字输出14 位
曝光时间21 μs 至 1 s
外部触发器输入边缘触发器,同步读出
触发使能功能支持
外部触发信号路由SMA 或 12 针 HIROSE 连接器
接口千兆以太网
图像处理背景扣除,实时阴影校正
其他功能倒装、隐藏数据
透镜接口C 型接口
电源直流 12 V
用电功耗最大 6 W
操作环境温度0 ℃ 到 +40 ℃
操作环境湿度30% 至 80%(无雾气现象)
存储环境温度-10 ℃ 到 +50 ℃
存储环境湿度最高 90%(无雾气现象)


光谱灵敏度特性


尺寸图


2F005-InGaAs 线阵扫描相机
SWIR(短波长红外)成像是非破坏性检测的理想解决方案。它可以看到表面之下的东西,根据其 SWIR 光谱特征区分材料,并提供安全便捷的方式来确保产品质量。

示例用途包括检查包装中的液体容量、检查密封容器的内容物,以及检测农产品中的损坏和污染物。此外,半导体行业中的用途包括硅晶圆图案检查和太阳能电池缺陷检测。将 SWIR 成像集成到生产线需要2F005 InGaAs 线阵扫描相机之类的相机,其高 SWIR 灵敏度和快速的线速非常适合实时、内联非破坏性检测。

与传统型号相比,2F005 通过添加边缘触发器功能提高了可用性,即使传送带速度在拍摄时发生变化,也能在一定的曝光时间内拍摄。它还兼容触发器启用功能,该功能仅在物体经过相机前方时拍摄。
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