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0A003001006-带放大器的光电二极管阵列

结合了信号处理 IC 的光电二极管阵列,适用于 X 射线检测
这是一款带放大器并且在受光面贴有磷光片的光电二极管阵列,用于 X 射线检测。与前代产品相比,X 射线耐受性有所提高。信号处理电路芯片采用 CMOS 工艺,并集成时序发生电路、移位寄存器、电荷放大器阵列、钳位电路和保持电路,通过将多个阵列排列成一排来配置外部电路。

特点
-数据率:最大 1 MHz
-大像元间距:0.8 mm 间距 × 64 通道
-5 V 电源供电
-使用电荷放大器阵列进行同步积分
-零偏压光电二极管操作降低暗电流
-集成钳位电路可实现低噪声和宽动态范围
-集成时序发生电路允许在两个不同的脉冲时序下操作
-可检测能量范围:30 k 至 100 keV

详细参数

影像尺寸51.2 x 0.8 mm
有效像素数64 像素
像素尺寸0.7 x 0.8 mm
像素间距0.8 mm
电源电压5 V
闪烁体磷光片
最大灵敏度波长720 nm
最大行速率14678 行/秒
电荷放大器反馈电容0.5 pF
测量条件典型值 Ta = 25°C,除非另有说明,最大灵敏度波长:无磷光片
备注用于 X 射线


外形尺寸图(单位:mm)

0A003001006-带放大器的光电二极管阵列
结合了信号处理 IC 的光电二极管阵列,适用于 X 射线检测
这是一款带放大器并且在受光面贴有磷光片的光电二极管阵列,用于 X 射线检测。与前代产品相比,X 射线耐受性有所提高。信号处理电路芯片采用 CMOS 工艺,并集成时序发生电路、移位寄存器、电荷放大器阵列、钳位电路和保持电路,通过将多个阵列排列成一排来配置外部电路。

特点
-数据率:最大 1 MHz
-大像元间距:0.8 mm 间距 × 64 通道
-5 V 电源供电
-使用电荷放大器阵列进行同步积分
-零偏压光电二极管操作降低暗电流
-集成钳位电路可实现低噪声和宽动态范围
-集成时序发生电路允许在两个不同的脉冲时序下操作
-可检测能量范围:30 k 至 100 keV
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