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0A002001010-硅光电二极管阵列
适用于 X 射线非破坏性检测的背照式光电二极管阵列
0A002001010 是一款背照式 16 像元光电二极管阵列，专为无损 X 射线检查而设计。与前代产品相比，它具有更高的灵敏度均匀性和更小的光电二极管像元变化。背照式光电二极管阵列也易于处理，并且易于连接到闪烁体，而不必担心导线损坏，因为入射光侧没有焊线和受光面。0A002001010可更换其他系列，因为其封装尺寸和管脚分配相同。
特点
-像元尺寸：1.175 (W) × 2.0 (H) mm/单像元
-像元间距：1.575mm（ × 16 像素）
-安装基板尺寸：25.4 (W) × 20.0 (H) mm
-通过多个阵列实现狭长形状
-支持双能量成像（用于上下两层组合时。
详细参数
| 像元尺寸（每个像元） | 1.175 × 2.0 mm |
| 像元数 | 16 |
| 封装 | 玻璃环氧树脂 |
| 封装类别 | 带闪烁体 |
| 闪烁体类型 | GOS 陶瓷 |
| 制冷 | 非冷却型 |
| 反向电压（最大值） | 10 V |
| 暗电流（最大值） | 30 pA |
| 上升时间（典型值） | 6.5 μs |
| 结电容（典型值） | 40 pF |
| 测量条件 | Ta = 25°C，每个像元，暗电流：VR=10 mV，上升时间：VR = 0 V，结电容：VR = 0 V |
外形尺寸图（单位：mm）
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